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领存NFA闪存测试仪
让你不再对闪存芯片测试方案束手无策
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面对闪存芯片，你是否也有以下测试难点？
Created with Sketch. 如何快速且准确地对大批量的闪存 芯片进行不同等级筛选？ 如何准确预估闪存芯片的实际使用 寿命？ 如何对闪存芯片的初始坏块进行优 化管理？ 如何测试自主研发的BCH ECC或 LDPC强度？ 如何对闪存芯片进行电压拉偏、物 理销毁等测试？
看看领存NFA闪存测试仪是如何解决这些测试难点

轻松进行大批量测试与筛选

领存NFA测试仪采用分布式架构，即每一个子板上都有基于FPGA的Nand控制器，通过简单的参数配置及自定义等级，在2小时内最多可同时测试960片（TSOP封装）至1120片（BGA封装）闪存芯片。

  • ·支持3D Nand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash
  • ·支持SLC，MLC，TLC，eMLC
  • ·支持8位和16位异步Flash
  • ·支持同步，Toggle Flash
  • ·支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、SanDisk、Hynix的所有常规Nand Flash
  • ·支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装

预测闪存真实寿命，发挥闪存最大价值

同一颗闪存芯片，每个Page和Block的健康程度都是不同的，所以其真实的寿命可能远大于厂商标称，只有真正测试过，才能发挥闪存的更大价值。领存独家的闪存寿命预测技术可以深入检测闪存在不同P/E阶段的寿命表现，对每个Page和Block真实性能精准评估，有助于更好的规划ECC，确保质保期内产品无故障。也可据此对同批芯片进行分等级筛选，让不同等级芯片在最适合其寿命的场景发挥价值。

深入了解领存寿命预测技术

像原厂一样管理坏块

领存NFA闪存测试仪可以在测试过程中发现活动坏块，并将其标记为原厂坏块，经领存NFA坏块管理技术管理后的闪存可以在任何主控、任何场景中放心使用，且无不良。

你想要的深度分析功能，一应俱全

领存NFA闪存测试仪全面的深度分析功能，是你进行深层次研究分析的最大利器：

  • ·支持4组不同强度ECC同时评估
  • ·支持多种pattern及自定义设定pattern下的P/E操作
  • ·支持对任意page进行测试，对任意地址发送任意命令
  • ·支持测试Read Retry
  • ·支持错误分布详细解析，并精准到每个bit错误的统计分析
  • ·支持RBER & UBER分析
  • ·支持编程等干扰测试
  • ·支持读取等干扰测试

有新的测试需求时，方便地添加功能或脚本

为了满足你不同场景的测试需求，领存NFA闪存测试仪提供了两种用户开发平台：

  • ·API：通过API，各种对NAND Flash的操作及设定，你都可以通过调用NFA提供的程序库在自己的软件中方便的实现自己需要的功能
  • ·脚本：NFA提供了一套自己的编程语言，支持你在NFA的程序内执行自定义的脚本
领存NFA闪存测试仪有不同系列，满足不同使用场景
领存NFA闪存测试仪的询价方式
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