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领存NFA测试仪采用分布式架构,即每一个子板上都有基于FPGA的Nand控制器,通过简单的参数配置及自定义等级,在2小时内最多可同时测试960片(TSOP封装)至1120片(BGA封装)闪存芯片。
同一颗闪存芯片,每个Page和Block的健康程度都是不同的,所以其真实的寿命可能远大于厂商标称,只有真正测试过,才能发挥闪存的更大价值。领存独家的闪存寿命预测技术可以深入检测闪存在不同P/E阶段的寿命表现,对每个Page和Block真实性能精准评估,有助于更好的规划ECC,确保质保期内产品无故障。也可据此对同批芯片进行分等级筛选,让不同等级芯片在最适合其寿命的场景发挥价值。
深入了解领存寿命预测技术领存NFA闪存测试仪可以在测试过程中发现活动坏块,并将其标记为原厂坏块,经领存NFA坏块管理技术管理后的闪存可以在任何主控、任何场景中放心使用,且无不良。
领存NFA闪存测试仪全面的深度分析功能,是你进行深层次研究分析的最大利器:
为了满足你不同场景的测试需求,领存NFA闪存测试仪提供了两种用户开发平台: